ウエハ検査など極小ピッチの検査で使用される、φ0.02～φ0.11のワイヤープローブです。

ICソケットなどに使用する、半導体デバイス検査用のバレル径Φ0.11 (ピッチ0.15mm) ～の両端可動/片端可動プローブです。

ICソケットなどに使用する、半導体デバイス検査用のバレル径Φ0.18～0.20の4端子法プローブで、2本セットで使用します。

バレル部がスプリング構造になった、ICソケットなどに使用するバレル径φ0.203～φ0.508のスプリングプローブです。

・超長寿命。外径0.40ｍｍ、0.50ｍｍプローブは300万回以上の使用実績があります。

・独特な構造（バテント）により安定した低抵抗値を実現しています。

・バーンインテストに使用可能です。

・信号のクロストーク、プローブのインピーダンスや抵抗を抑えることで、
フィクスチャに与えるノイズを減らし、精度の高い測定値を得ることができます。

・高バネ圧対応（例：外径0.20ｍｍプローブ、全長3.3ｍｍ、40ｇｆ＠0.125ｍｍストローク）。